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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測試分類機(jī)

主要特色：

• 整合SD卡測試機(jī)與自動分類機(jī)功能
• 平行測試120個micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測試時間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類結(jié)果資訊
• 小機(jī)臺體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測試介面
• SD卡資料寫入模組

Chroma 3280采用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測試機(jī)與 自動分類機(jī)的功能，并利用Test-In-Tray的技術(shù)來 達(dá)到大量平行測試的能力。透過支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數(shù)測 試的功能，3280為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺的設(shè)計更可節(jié)省機(jī)臺于測試廠之占地面積。

對于低價的消費性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，制造商也會極為敏感。而這樣 的特性往往是此類消費性產(chǎn)品在成品測試中之一 大挑戰(zhàn)。對于SD卡類產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因為采用KGD生產(chǎn)的SD卡類 產(chǎn)品，將可減少在成品測試中對于測試項目的要 求，只需針對成品封裝過程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測，而不需要再對整個晶片進(jìn)行完整的測 試。

Chroma 3280整合了測試機(jī)臺與自動分類機(jī)的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機(jī)臺的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測試機(jī)臺來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測物置于IC托盤中直接測 試的測試方式。利用這樣的測試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測試方法因自動分類機(jī)在進(jìn)行測試 時，必須以機(jī)器手臂夾取每個待測元件所需花取 的索引時間。因此，提供了一個蕞有效率的測試 方法。在Chroma 3280中,對于120個SD卡進(jìn)行測 試時所需花費的索引時間大約只有10秒鐘。

高平行測試能力 : Chroma 3280配備了一個專屬 的SD卡測試機(jī)巢 (Test Hive)，此一測試機(jī)巢提供 了能夠同時測試120個micro SD卡的測試能力。

僅移除SD卡測試壞品 : 由于3280使用置于盤中 直接測試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特 性，3280采取僅從整盤的SD卡中移除于測試過 程中所偵測到的瑕疵品到廢品盤內(nèi)，同時再從預(yù) 先準(zhǔn)備好的補(bǔ)充盤中夾取已測試過的良品來補(bǔ)足 目前測試盤中被移除的壞品，而將目前的測試盤 填滿成一完整的良品，并送至完測區(qū)。假設(shè)若以 98%的測試良率而言，每次僅需從測試盤中移除 2到3個壞品。因此，在進(jìn)行好壞品分類中平均 所花的時間將小于測試所花的時間，不須要等候 分類工作完成后才能進(jìn)行下一次的測試，也使得 整體的測試時間更有效率。

SD卡測試模組 : Firecracker II

Firecracker II的電路設(shè)計與裝置于3280測試機(jī)巢 (Test Hive)中的測試模組其電路設(shè)計*一樣。 對于3280的使用者而言，F(xiàn)irecracker II是一個相 當(dāng)方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線 的狀態(tài)下，用來產(chǎn)生或測試其測試程式。透過多 樣化轉(zhuǎn)接介面的設(shè)計，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式， 使用者將可進(jìn)行直接的測試或是除錯等工作。

測試能力

SD Protocol Aware Tests

• Check CID Reg
• Check CSD Reg
• Check OCR Reg
• Check SCR Reg
• Check SD Status
• Functional Test

DC Measurements

• Open/Shorts
• ESD Diodes
• Power Up Idd
• Leakage

軟體功能

• 使用者權(quán)限與密碼管理
• 機(jī)臺狀況警示偵測系統(tǒng)
• 視覺化圖解顯示機(jī)臺卡件錯誤發(fā)生區(qū)域
• 提供離線模擬執(zhí)行模式
• 即時測試結(jié)果顯示與更新
• 可個別或取消單一待測物之測試
• 測試良率與UPH資訊顯示
• 多種良率監(jiān)控指標(biāo)設(shè)定
• 測試中機(jī)臺開門中斷保護(hù)功能
• 緊急停機(jī)控制功能
• 系統(tǒng)警示紀(jì)錄保存功能

Sorting Status

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