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Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心測試系統(tǒng)致茂測試系統(tǒng)3240-Q致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機(jī)
致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機(jī)符合成本效益的RF整合方案客制RF隔離室和整合Tester安裝可調(diào)整測試間距至120mm具有八個(gè)平行測試站點(diǎn)支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm精確的定位能力支援JEDEC和EIA料盤
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產(chǎn)品分類品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機(jī)
主要特色:
3240-Q是一個(gè)獨(dú)特且創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機(jī)。此機(jī)臺配置多達(dá)八個(gè)測試 站點(diǎn)和獨(dú)立的隔離作平行測試。 3240-Q具有順暢的自動化測試,、精確的Pick & Place技術(shù)、彈 性的多測點(diǎn)架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢,適用于射頻和無線晶片測試。
3240-Q也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設(shè)計(jì), 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強(qiáng)溫控的測試能力, 可提供高達(dá)150℃之高溫測試環(huán)境。
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Model | Description | 詢價(jià) |
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3240-Q | 無線射頻分類機(jī) |
致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機(jī)